植物冠層結構直接影響著植物的許多生物、物理過程，比如說光合作用、呼吸作用、蒸騰作用、碳氮循環和降水截獲等。因此測定植物的冠層結果，對于提高現代農藝水平，有十分重要的意義。一般來說測定植物冠層數據主要有兩種方法，第一種是直接測量，第二種是采用冠層分析系統間接測量，而現代農業研究中，多是采用第二種方式來開展測量工作，那么采用冠層分析系統測量冠層數據有哪些優點呢？

      首先來說說直接測量和間接測量都是如何進行的。直接測量是通過想測定所有葉片的葉面積，再計算LAI，因要剪下全部待測葉片，多數屬于毀壞性測量，或至少會干擾冠層，葉片角度的分布，從而影響數據的質量，直接測量費時、費力。間接測量就是利用冠層結構與冠層內輻射與環境的相互作用這一定量耦合關系，通過冠層分析系統來測定植物冠層的相關數據，通過植物冠層的轉移模型來推斷LAI。

      冠層分析系統是通過處理影像數據文件來獲取與冠層結構有關的，例如葉面積指數、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數據的相關信息，能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。因此與直接測量法相比，采用冠層分析系統測量冠層數據，可以避免直接測量法所造成的大規模破壞植被的缺點，而且采用儀器進行測量操作，具有方便快捷，不受時間限制，獲取數據量大等優點，非常適合用于現代農業科研研究當中，因此目前冠層分析系統被廣泛應用于農業、園藝、林業領域有關栽培、育種、 植物群體對比與發展的 研究與教學工作當中，并在實際工作中發揮了重要的作用。